通过分析我们归纳出LED失效模式和上述两个主因之间的对应关系。上述我们谈到很多LED的失效通常在LED的常规检验测试中是无法发现的。除了在受到静电放电、大电流(造成结温过高)、外部强力等不当使用外，很多LED失效是在高温、低温、温度快速变化或其他恶劣条件下，由于led芯片、环氧树脂、支架、内引线、固晶胶、PPA杯体等材料热膨胀系数的差异，引发其内部应力的不同而产生的。
因此，LED的质量检测是一项十分复杂的工作。再者，对于GaN基LED而言，静电放电是其失效的最大诱因。静电放电导致LED失效的机理非常复杂，设备、工具、器皿及人体均有可能带有静电并对其放电，这种静电少则几百伏，高则几万伏，放电时间在纳秒级水平。我们在显示屏生产、安装、使用过程中出现的蓝绿管失效，往往就是LED-PN结被静电放电击穿所至。国际静电协会严格规定了标准静电放电模式，主要分为人体放电模式(HBM)和机器放电模式(MM)。我国对器件的静电放电敏感度(ESDS)分为三个等级(人体模式)：1级为0～1999V；2级为2000～3999V；3级为4000V以上。一般情况下LED的静电放电敏感度在人体模式下在几百伏～上万伏之间，而在机器模式下只有几十伏到五百伏左右。LED显示屏由于生产过程繁杂，静电放电防不胜防，因此，LED静电放电敏感度应选择2级或以上为妥(人体模式)，而静电防护必须贯穿生产全过程。
